CT-2电解式膜厚计 CT-2测厚仪 技术资料:1.测量范围:0.006~300 um2.分辨率:0.001 um3.**度:±1%4.测量面积:3.4、2.4、1.7∮mm5.电解速度:250、125、50、25、12.5、5、2.5、1.25nm/sec6.测量单位:um、nm、mil、MI四种7.感应方式:11段式调整控制8.可测镀层:金、银、化学镍、铟、硬铬、装饰铬、锌、镉、锡、铅、铜、钴、镍、铁、双重镍、三重镍、黑铬9.可测合金属:锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金10.误差可校正范围:±15%11.输出功能:可由打印机打印测量资料及统计12.显示幕功能:LED4排40位液晶石英显示幕13.主机尺寸:300(W)*150(H)*200(D)mm14.主机重量:3.0kg15.使用电压:AC110V(220V)/50,60Hz